Micro total reflection x-ray fluorescence (µ-TXRF) analysis

Author:

Tsuji Kouichi,Kawamata Masaya,Nishida Yousuke,Nakano Kazuhiko,Sasaki Ken-ichi

Publisher

Wiley

Subject

Spectroscopy

Reference11 articles.

1. Optical Flats for Use in X‐Ray Spectrochemical Microanalysis

2. Total-Reflection X-Ray Fluorescence Analysis. John Wiley and Sons: New York, 1997.

3. Basic features of total-reflection X-ray fluorescence analysis on silicon wafers

4. , . Total reflection X-ray fluorescence. In Handbook of X-ray Spectrometry, 2nd edn, (eds). Marcel Dekker: New York, 2002.

5. Semiconductor applications of nanoliter droplet methodology with total reflection x-ray fluorescence analysis

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