1. High resolution auger electron spectroscopy for materials characterization
2. Practical surface analysis: state of the art and recent developments in AES, XPS, ISS and SIMS
3. , , Methoden zur Untersuchung von Oberflächen, in: Ullmanns Encycl. d. techn. Chemie, Vol.5 (, ed.), Verlag Chemie, Weinheim, 1980, 519 (D).
4. , , Hrsg., , Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES, XPS, Springer, Berlin - Heidelberg - New York - Tokyo, 1984 (D).
5. , p. 97 in ref. [4] (D).