Author:
Kallenowsky T.,Koi H.,Boudriot H.,Oettel O.,Schneider H. A.
Subject
Condensed Matter Physics,General Materials Science,General Chemistry
Reference8 articles.
1. Free carrier density profiling by scanning infrared absorption
2. Determination of carrier concentration and compensation microprofiles in GaAs
3. : Über die Entstehung von Inhomogenitäten in Halbleiterkristallen bei der Herstellung aus Schmelzen, Langensendelbach 1986
4. : Ingenieurpraktikum, Freiberg 1989