Calculation of depth distribution functions in films using an electron scattering model
Author:
Funder
Austrian Fonds zur Förderung der wissenschaftlichen Forschung
Publisher
Wiley
Subject
Instrumentation,Atomic and Molecular Physics, and Optics
Link
http://onlinelibrary.wiley.com/wol1/doi/10.1002/sca.4950130603/fullpdf
Reference62 articles.
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3. Calculation and comparison of the surface ionization Φ(0);August;Scanning,1990a
4. Theoretical prediction of the electron backscattering coefficient for multilayer structures;August;J Microsc,1990b
Cited by 1 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献,注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献,订阅后可以查看论文全部施引文献
1. New expressions for angular distributions;Scanning;1996-09
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