Calculation of depth distribution functions in films using an electron scattering model
Author:
Funder
Austrian Fonds zur Förderung der wissenschaftlichen Forschung
Publisher
Wiley
Subject
Instrumentation,Atomic and Molecular Physics, and Optics
Link
http://onlinelibrary.wiley.com/wol1/doi/10.1002/sca.4950130603/fullpdf
Reference62 articles.
1. A method for determining the mass thickness of thin films using electron probe microanalysis;August;Scanning,1987
2. Calculation of the electron backscattering coefficient for thin films using a simple electron scattering model;August;J Microsc Spectrosc Electron,1989
3. Calculation and comparison of the surface ionization Φ(0);August;Scanning,1990a
4. Theoretical prediction of the electron backscattering coefficient for multilayer structures;August;J Microsc,1990b
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1. New expressions for angular distributions;Scanning;1996-09
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