Abstract
AbstractEs wurde mit Röntgenstrahlen, die nach der Reflexion an der Probe monochromatisiert wurden, das Schmelz‐und Kristallisationsverhalten von Teflon und Hostaflon untersucht. Das Schmelzverhalten ist nur zu verstehen, wenn man einen spontanen Zerfall der Kohärenzbereiche annimmt. Weiter wird das Verhalten einer hochgetemperten und einer abgeschreckten Probe des Teflons einander gegenübergestellt. In der hoch‐getemperten Probe haben sich wohlausgebildete Spiralen gebildet, die nach lateraler Kristallisation korkzieherartige Schwingungen ausführen (pseudohexagonaler Zustand), dann zur Ruhe kommen (hexagonaler Zustand) und schließlich in ein dichteres Kristallgitter (monokliner Zustand) übergehen. In der abgeschreckten Probe unterbleibt die Bildung der Spiralen; es entsteht in lateraler Kristallisation lediglich eine pseudohexagonale Ordnung, ohne daß sich der hexagonale und der monokline Zustand ausbilden können. Ausgebildete Spiralen halten sich noch kurze Zeit in der Schmelze. Demgegenüber ist das Hostaflon durch den Einbau der Chloratome gestört. Die laterale Kristallisation wird erschwert, die Bildung von Spiralen erleichtert; man beobachtet daher nur einen einzigen kristallinen Zustand (hexagonal), hat aber auch die Möglichkeit, das Glas zu erhalten.
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