Electron Spectroscopy of SI Traceable; CMA as an Example-Reference-Cited by-同舟云学术

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Electron Spectroscopy of SI Traceable; CMA as an Example

Published:2006 Issue:11 Volume:27 Page:649-656
ISSN:0388-5321
Container-title:Hyomen Kagaku
language:en
Short-container-title:Journal of The Surface Science Society of Japan

Author:

GOTO Keisuke¹,ALKAFRI Adel²,ICHIKAWA Yo²,SHIMIZU Ryuichi³

Affiliation:

1. AIST

2. Nagoya Institute of Technology

3. Osaka Institute of Technology

Publisher

Surface Science Society Japan

Subject

General Earth and Planetary Sciences,General Engineering,General Environmental Science

Link

http://www.jstage.jst.go.jp/article/jsssj/27/11/27_11_649/_pdf

Reference13 articles.

1. 1) 吉原一紘:表面科学 24,201 (2003);

2. 吉原一紘,一村信吾,古川洋一郎,鈴木峰晴,橋本哲,田沼繁夫,本間芳和:表面化学分析技術.マイクロビーム分析技術国際標準化活動状況, JSCAニュース特別号, 財.日本規格協会 (2006年9月1日).

3. 2) V.V. Zashkvara, M.I. Korsunski and O.S. Kosmachev: Sov. Phys.-Tech. Phys. 11, 96 (1966).

4. Cylindrical Capacitor as an Analyzer I. Nonrelativistic Part

Cited by 2 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Database for Auger and Secondary Electron Spectra Based on Absolute Measurements;Vacuum and Surface Science;2021-10-10

2. Identification of Background in CMA;Journal of Surface Analysis;2007

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