Accelerated testing for cosmic soft-error rate

Author:

Ziegler J. F.,Muhlfeld H. P.,Montrose C. J.,Curtis H. W.,O'Gorman T. J.,Ross J. M.

Publisher

IBM

Subject

General Computer Science

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1. Analysis of Combinational Circuit Failure Rate based on Graph Partitioning and Probabilistic Binomial Approach;Journal of Electronic Testing;2024-05-28

2. Measuring the cross section of the N15(α,γ)19F reaction using a single-fluid bubble chamber;Physical Review C;2023-03-06

3. Characterizing System-Level Masking Effects against Soft Errors;Electronics;2021-09-17

4. Radioactive background for ProtoDUNE detector;Journal of Cosmology and Astroparticle Physics;2021-08-01

5. Cosmic rays;Proceedings of the 15th International Conference on Availability, Reliability and Security;2020-08-25

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