Dating Micrometre-Thin Rims Using a LA-ICP-MS Depth Profiling Technique on Zircon from an Archaean Metasediment: Comparison with the SIMS Depth Profiling Method

Author:

Kelly Colter J.1,McFarlane Christopher R.M.2,Schneider David A.1,Jackson Simon E.3

Affiliation:

1. Department of Earth Sciences; University of Ottawa; Ottawa K1N 6N5 Canada

2. Department of Earth Sciences; University of New Brunswick; Fredericton E3B 5A3 Canada

3. Natural Resources Canada; Geological Survey of Canada; Ottawa K1A 0E4 Canada

Publisher

Wiley

Subject

Geochemistry and Petrology,Geology

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