1. C. Le Cam, F. Guyader, C. Buttet, P. Guyader, G. Ribes, M. Sardo, S. Vanbergue, F. Buj, F. Arnaud, E. Josse, M. Haond, Symp. VLSI Tech. 2006, 82.
2. C. Ortholland, P. Morin, C. Chaton, E. Mastromatteo, C. Populaire, S. Orain, F. Leverd, P. Stolk, F. Boeuf, F. Arnaud, Symp. VLSI Tech. 2006, 78.
3. S. Thompson, N. Anand, M. Armstrong, C. Auth, B. Arcot, M. Alavi, P. Bai, J. Bielefeld, R. Bigwood, J. Brandenburg, M. Buehler, S. Cea, V. Chikarmane, C. Choi, R. Frankovic, T. Ghani, G. Glass, W. Han, T. Hoffmann, M. Hussein, P. Jacob, A. Jain, C. Jan, S. Joshi, C. Kenyon, J. Klaus, S. Klopcic, J. Luce, Z. Ma, B. McIntyre, K. Mistry, A. Murthy, P. Nguyen, H. Pearson, T. Sandford, R. Schweinfurth, R. Shaheed, S. Sivakumar, M. Taylor, B. Tufts, C. Wallace, P. Wang, C. Weber, M. Bohr, IEEE IEDM Tech. Dig. 2002, 61.
4. F. Andrieu C. Dupré, F. Rochette, F. Rochette, O. Faynot, L. Tosti, C. Buj, E. Rouchouze, M. Cassé, B. Ghyselen, I. Cayrefourcq, L. Brévard, F. Allain, J. C. Barbé, J. Cluzel, A. Vandooren, S. Denorme, T. Ernst, C. Fenouillet-Béranger, C. Jahan, D. Lafond, H. Dansas, B. Previtali, J. P. Colonna, H. Grampeix, P. Gaud, C. Mazuré, S. Deleonibus, Symp. VLSI Tech. 2006, 134.
5. A. Thean, D. Zhang, V. Vartanian, V. Adams, J. Conner, M. Canonico, H. Desjardin, P. Grudowski, B. Gu, Z. H. Shi, S. Murphy, G. Spencer, S. Filipiak, D. Goedeke, X. D. Wang, B. Goolsby, V. Dhandapani, L. Prabhu, S. Backer, L. B. La, D. Burnett, B. White, Symp. VLSI 2006, 130.