Super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy
Author:
Publisher
Elsevier
Reference18 articles.
1. Cross-sectional dopant profiling and depletion layer visualization of SiC power double diffused metal-oxide-semiconductor field effect transistor using super-higher-order nonlinear dielectric microscopy;Chinone;J. Appl. Phys.,2014
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5. Scanning nonlinear dielectric microscope;Cho;Rev. Sci. Instrum.,1996
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