Über den Einfluss der Sekundäranregung und der Streuung auf die Röntgenfluoreszenzintensitäten bei der Lösungs-RFA
Author:
Publisher
Elsevier BV
Subject
Spectroscopy,Instrumentation,Atomic and Molecular Physics, and Optics,Analytical Chemistry
Reference13 articles.
1. Contrôle de l'effet de matrice en fluorescence X et principe d'une méthode quasi-absolue d'analyse quantitative en solution solide ou liquide
2. Die sekundäranregung bei der quantitativen röntgenfluoreszenzanalyse mit variablem beobachtungswinkel
3. Analogien zwischen der Röntgenstreuanalyse und der Röntgenfluoreszenzanalyse
4. Theoretical Calculation of Fluorescent X-Ray Intensities in Fluorescent X-Ray Spectrochemical Analysis.
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1. Estimation and account for matrix effects in studying glass materials of cultural heritage by X-ray spectral analysis;X-Ray Spectrometry;2010-01
2. Influence of in-sample scattering of fluorescent radiation on line shapes of Si(Li) detectors in XRF studies;X-Ray Spectrometry;1993-05
3. Theoretical calculation of secondary X-ray fluorescence due to Compton electrons;Journal of Physics D: Applied Physics;1992-02-14
4. Präparationstechnik in der RFA;Röntgenfluoreszenzanalyse;1989
5. On the application of radioisotope X-ray fluorescence analysis for the solution of environmental and industrial problems;Journal of Radioanalytical Chemistry;1976-09
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