Total reflection X-ray fluorescence spectrometry for surface analysis

Author:

Knoth J.,Schwenke H.,Weisbrod U.

Publisher

Elsevier BV

Subject

Spectroscopy,Instrumentation,Atomic and Molecular Physics, and Optics,Analytical Chemistry

Reference6 articles.

1. H. Schwenke and J. Knoth, Handbook on X-ray Spectrometry (Ed. R. Van Grieken and M. Markowitz). Marcel Dekker, New York, in preparation.

2. Surface Studies of Solids by Total Reflection of X-Rays

3. Atomika Technische Physik GmbH, Postfach 450135, D-8000 München, F.R.G. Technical Notes.

4. Semiconductor Fabrication: Technology and Meterology;Eichinger,1988

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