Polarons, oxygen vacancies, and hydrogen in BaxSr1–xTiO3

Author:

Scott J.F.,Redfern S.A.T.,Zhang Ming,Dawber M.

Publisher

Elsevier BV

Subject

Materials Chemistry,Ceramics and Composites

Reference33 articles.

1. Analysis of the degradation of PZT and SrBi2Ta2O9 thin films with a reductive process;Hase;Integr. Ferroelectr.,1997

2. Limitations on ULSI-FeRAMs;Scott;IEICE Trans. Elec. (Japan),1998

3. Recovery of forming gas damaged Pb(Nb,Zr,Ti)O3;Aggarwal;Appl. Phys. Lett.,2000

4. Evaluation of electrical properties and SIMS profiles of forming-gas (N2+H2) annealed Pt/PZT/Pt capacitors;Ashida;Integ. Ferroelec.,1998

5. H2 damage of PZT thin-film capacitors;Shimamoto;Appl. Phys. Lett.,1997

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