Internal Temperature Measurement of Electronic Components

Author:

Joubert Eric,Latry Olivier,Dherbecourt Pascal,Fontaine Maxime,Gautier Christian,Polaert Hubert,Eudeline Philippe

Publisher

Elsevier

Reference8 articles.

1. Temperature measurement by micro-Raman scattering spectroscopy in the active zone of algangan high-electron-mobility transistors;Aubry;The European Physical Journal Applied Physics,2004

2. Electrical measurement of the junction temperature of an RF power transistor;Cain;IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement,1992

3. Sondes laser et méthodologies pour l’analyse thermique à l’échelle micrométrique – application à la microélectronique;Dilhaire;Revue générale de thermique,1998

4. New approach for thermal investigation of a III-V power transistor;Fontaine,2008

5. Simultaneous measures of temperature and expansion on electronic compound;Fontaine,2011

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