1. Terminologie relative à la fiabilité-maintenabilité-disponibilité;AFNOR,1988
2. Study on the amorphous Ta2O5 thin film capacitors deposited by dc magnetron reactive sputtering for multichip module applications;Cho;Materials Science and Engineering, B,1999
3. Modèles Statistiques pour des données qualitatives;Droesbeke,2005
4. Standard Test Method A110-B Highly-Accelerated Temperature and Humidity Stress Test (HAST) JESD22-A110-B (Revision of Test Method A110-A);EIA/JEDEC,1999