The Use of Specimen Current in Electron-Probe Microanalysis
Author:
Publisher
Elsevier
Reference11 articles.
1. Back Scattering of Electrons
2. Secondary electron emission Part V. The mechanism of secondary electron emission
3. Backscattering of 5–20 kev Electrons from Insulators and Metals
4. Method of Measuring Luminescent Screen Potential
Cited by 6 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献
1. Overview of the application of quantitative backscattered electron (QBSE) image analysis to characterize the cement-based materials;Construction and Building Materials;2023-11
2. Influence of energy loss function to the Monte Carlo simulated electron backscattering coefficient;Scientific Reports;2022-10-28
3. Raster-Elektronenmikroskopie: Physikalische Grundlagen der Kontrastentstehung;Elektronenmikroskopie in der Festkörperphysik;1982
4. Abbildung mit Sekundär-, Rückstreuelektronen und Probenströmen;Raster-Elektronenmikroskopie;1977
5. Bestimmung der mittleren Ordnungszahl von Legierungen bei der quantitativen Mikrosondenanalyse;Archiv für das Eisenhüttenwesen;1973-02
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