1. Kato, Y.; Fukuhara, S.; Komoda, T., Proc. 10. Sem Symp., Chicago 1977, Part I, P. 41.
2. Shea, S. P.; Partain, L. D.; Warter, P. J., Scanning Electron Microscopy 1978/ I. Eds.: P. Becker; O. Johari. -Amf O’hare: Sem Inc. 1978, P. 435.
3. Hosokawa, T.; Fujioka, H.; Ura, K., Appi. Phys. Lett. 31 (1977) 340.
4. Shaffner, T. J., Scanning Electron Microscopy 1978/1. Eds.: P. Becker; O. Johari. -Amf O’hare: Sem Inc. 1978, P. 149.
5. Jones, A. V.; Smith, K. C. A., Scanning Electron Microscopy 1978/1. Eds.: P. Becker, O. Johari. -Amf O’hare: Sem Inc. 1978, P. 13.