Electrical and optical properties of Co+ ion implanted a-Si1−xCx:H alloys

Author:

Emerson N.G,Gwilliam R.M,Shannon J.M,Jeynes C,Sealy B.J,Tsvetkova T,Tzenov N,Tzolov M,Dimova-Malinovska D

Publisher

Elsevier BV

Subject

Instrumentation,Nuclear and High Energy Physics

Reference11 articles.

1. Amorphous and Microcrystalline Semiconductor Devices;Kanicki,1991

2. J.F. Ziegler, in: Ion Implantation Academic Press, New York, 1988

3. Mesotaxy: Single‐crystal growth of buried CoSi2layers

4. S. Hutchinson, M. Finney, K.J. Reeson, M.A. Harry, R.M. Gwilliam, B.J. Sealy, in: S. Coffa et al. (Eds.), Ion Implantation Technology, Elsevier, Amsterdam, 1995, p. 934

5. B.J. Sealy, R.M. Gwilliam, C. Jeynes, J.M. Shannon, T. Tsvetkova, C. Angelov, D. Dimova-Malinovska, N. Tzenov, Vacuum, in press

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