Direct observation of microtwin formation at crack tips in InP
Author:
Publisher
Elsevier BV
Subject
General Engineering
Reference17 articles.
1. Slip and twinning in high-stress-deformed GaAs and the influence of doping
2. Single stacking faults in high-stress deformed semi-insulating GaAs
3. Plastic deformation of GaAs single crystals as a function of electronic doping II: Low temperatures (20–300°C)
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1. Plastic deformation, extended stacking faults and deformation twinning in single crystalline indium phosphide 2. S doped InP;Philosophical Magazine A;1996-03
2. Deformation twinning;Progress in Materials Science;1995
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