Measuring Stress Birefringence in Small Si Samples

Author:

Wang Baoliang (Bob),Leadbetter Andy,Freudenthal John,Seipel Bjoern,Seigneur Hubert

Publisher

Elsevier BV

Reference10 articles.

1. Measuring stress in Si ingots using linear birefringence;Wang;Energy Procedia,2013

2. A new instrument for measuring both the magnitude and angle of low level linear birefringence;Wang;Rev Sci Instrum,1999

3. Wang B. Polarimetry. In: Yoshizawa T, Editor. Handbook of optical metrology: principles and applications. New York: CRC Press; 2009; 2nd Edition, in print (2014).

4. Piezo-optical birefringence modulators: new use for a long-known effect;KEMP;J Opt Soc Am,1969

5. www.hindsinstruments.com.

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