Author:
Blanchard B.,Hilleret N.,Monnier J.
Subject
Mechanical Engineering,Mechanics of Materials,Condensed Matter Physics,General Materials Science
Reference16 articles.
1. Étude d’une méthode d’analyse locale chimique et isotopique utilisant l’émission ionique secondaire
2. Thèse de Docteur-Ingénieur, Paris;Bailleul-Langlais,1968
3. Analysis of Impurity Distribution in Homoepitaxial n on n+ Films of GaAs which Contain High‐Resistivity Regions
4. Journées d'études DGRST sur les modèles des composants semiconducteurs, Toulouse;Monnier,1971
5. XVIch Annual Conference on Mass Spectrometry and Allied Topipics;Rouberol,1968
Cited by
34 articles.
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