1. Quantitative X-ray microanalysis of thin foils in STEM;X-Ray Spectrometry;1986-04
2. Updating correction procedures in quantitative electron-probe microanalysis;Scanning;1981
3. Electron-probe microanalysis: The relation between intensity ratio and concentration;Metallurgical Reviews;1971-01
4. Etat actuel des méthodes quantitatives d’analyse par sonde électronique;Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l’Optique des Rayons X et la Microanalyse;1969
5. Etat actuel des méthodes quantitatives d’analyse par sonde électronique;Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l’Optique des Rayons X et la Microanalyse;1969