Problems on computer processing of SIMS spectra
Author:
Publisher
Elsevier BV
Subject
Surfaces, Coatings and Films,Condensed Matter Physics,Instrumentation
Reference8 articles.
1. Experience with a Computer Program for Residual Gas Analyzers
2. Computer program for peak identification in secondary ion mass spectra
3. Computer peak identification in SIMS
4. Secondary Mass Spectrometry: SIMS III;Antal,1982
5. Empirical formula for the calculation of secondary ion yields from oxidized metal surfaces and metal oxides
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