1. Quantitative description of microstructure of materials;Kurzydlowski,1995
2. Praktyka analizy obrazu;Wojnar,2004
3. Szafran M, Boczkowska A, Konopka K, Kurzydłowski KJ, Rokicki G, Batorski K. PL patent No. P.353130; 2002.
4. Propagacja pêkniêcia w kompozycie o osnowie ceramiki porowatej SiO2 infiltrowanej elastomerem;Konopka;Kompozyty,2002
5. Mikrostruktura i właściwości kompozytów ceramika–elastomer;Konopka;Kompozyty,2003