Author:
Rempfer Gertrude F.,Skoczylas Walter P.,Hayes Griffith O.
Subject
Instrumentation,Atomic and Molecular Physics, and Optics,Electronic, Optical and Magnetic Materials
Reference27 articles.
1. Surface studies by low-energy electron microscopy (LEEM) and conventional UV photoemission electron microscopy (PEEM)
2. Entwicklung eines Emissionsmikroskops höher Auflösung mit photoelektrischer, kinetischer und thermischer Elektronenauslösung;Engel,1968
Cited by
70 articles.
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