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2. Beche, E., 1992. Etude par spectrométries de photoémission (XPS) et d’électrons AUGER (AES) des environnements chimiques dans des films minces amorphes à base de silicium SiCx, SiNx, SiOx, SiCxNy, SiOxNy hydrogénés ou non, Université de Franche-Comté, p. 140
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