myDLTS: LabVIEW based software for deep level transient spectroscopy using impedance analyser
Author:
Funder
National Science Centre Poland
Publisher
Elsevier BV
Reference21 articles.
1. Deep-level transient spectroscopy: a new method to characterize traps in semiconductors;Lang;J Appl Phys,1974
2. Laplace transform deep-level transient spectroscopic studies of defects in semiconductors;Dobaczewski;J Appl Phys,1994
3. Fe deep level optical spectroscopy in InP;Bremond;Solid State Commun,1982
4. Energy state distributions of the Pb centers at the (100), (110), and (111) SiSiO2 interfaces investigated by laplace deep level transient spectroscopy;Dobaczewski;Appl Phys Lett,2008
5. Deep-level transient spectroscopy of the charged defects in p-i-n perovskite solar cells induced by light-soaking;Vasilev;Opt Mater X,2022
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