Netzebenen-“interferometrie”
Author:
Publisher
Elsevier BV
Subject
General Physics and Astronomy
Reference8 articles.
1. Notizen: Röntgenographische Abbildung des Verzerrungsfeldes einzelner Versetzungen in Germanium-Einkristallen
2. Zur r�ntgenographischen Bestimmung des Typs einzelner Versetzungen in Einkristallen
3. “Eingefrorene” und “reversible” gitterverzerrunger
4. �ber eine r�ntgenographische Methode zur Untersuchung von Gitterst�rungen an Kristallen
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1. Texture development and residual stress in UHV evaporated silver films on glass substrates as a function of substrate temperature;Vacuum;2005-02
2. Determination of residual stress in thin films: a comparative study of X-ray topography versus laser curvature method;Thin Solid Films;2002-08
3. Stresses in Multilayered Thin Films;MRS Bulletin;1999-02
4. Depth-sensitive strain analysis of a W–Ta–W trilayer;Thin Solid Films;1997-06
5. Analysis of thin film stress measurement techniques;Thin Solid Films;1997-06
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