Secondary ion yields near 1 for some chemical compounds
Author:
Publisher
Elsevier BV
Subject
General Physics and Astronomy
Reference8 articles.
1. Ion Microprobe Mass Analyzer
2. Die Analyse monomolekularer FestkörperoberflÄchenschichten mit Hilfe der SekundÄrionenemission
3. Beobachtung von oberflächenreaktionen mit der statischen methode der sekundärionen-massenspektroskopie. I die methode
4. Electron Ejection from Solids by Atomic Particles with Kinetic Energy
5. Zum Mechanismus der Ionenbildung und Ionenemission bei der FestkörperzerstÄubung
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1. Space weathering on inner planetary surface analogues induced by swift multicharged heavy ion bombardment;Icarus;2022-03
2. Exposure of AlN and Al2O3 to low energy D and He plasmas;Nuclear Materials and Energy;2020-05
3. On the SIMS Ionization Probability of Organic Molecules;Journal of the American Society for Mass Spectrometry;2017-03-06
4. Electron emission projection imager;Review of Scientific Instruments;2017-03
5. Changes in a surface of polycrystalline aluminum upon bombardment with argon ions;Russian Journal of Physical Chemistry A;2014-08-31
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