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Development and validation of a wide band Near Field Scan probe for the investigation of the radiated immunity of Printed Circuit Boards

  • Published:2019-06 Issue: Volume: Page:
  • ISSN:
  • Container-title:2019 Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Sapporo and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Sapporo/APEMC)
  • language:
  • Short-container-title:

Author:

Durier Andre,Ben Dhia Sonia,Dubois Tristan

Publisher

IEEE

Cited by 1 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Analysis of Near-Field Probing Techniques for Immunity Tests;2022 ESA Workshop on Aerospace EMC (Aerospace EMC);2022-05-23
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