Localized surface analysis by grazing-exit X-ray spectrometry and a scanning tunneling microscope.
Author:
Affiliation:
1. Institute for Materials Research, Tohoku University
Publisher
Japan Society for Analytical Chemistry
Subject
Analytical Chemistry
Link
http://www.jstage.jst.go.jp/article/bunsekikagaku/51/8/51_8_605/_pdf
Reference26 articles.
1. Surface Studies of Solids by Total Reflection of X-Rays
2. Optical Flats for Use in X‐Ray Spectrochemical Microanalysis
3. Total-reflection x-ray fluorescence spectrometric determination of elements in nanogram amounts
4. Synchrotron radiation excited x-ray fluorescence analysis using total reflection of x-rays
5. 5) R. Klockemkämper (Ed.): “Total-Reflection X-ray Fluorescence”, (1997), (John Wiley and Sons, New York).
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