Abstract
С помощью Монте-Карло моделирования изучено формирование и движение капель Ga и In в
процессе ленгмюровского испарения подложек полупроводников AIIIBV с ориентациями поверхности
(111)A и (111)B. На подложках (111)A металлические капли формируются около ступеней
вицинальных поверхностей, а на (111)В – случайным образом по всей поверхности подложки.
Экспериментально было показано, что капли металла движутся по поверхности подложек при
высокотемпературных отжигах [1-4]. Нами
предложен механизм движения капель на
начальных стадиях отжига. Причиной
движения капель является травление боковых
фасеток границы раздела капля-подложка
жидким металлом. При зарождении капли
образуются нижняя и боковая границы
раздела капля-кристалл.
Латеральная граница раздела состоит из 6
фасеток с ориентациями <111>: трех (111)A и
трех (111)B. Было показано, что
поверхность (111)A травится жидким
металлом интенсивнее, чем (111)B. Капли
металла движутся по поверхности в
направлениях <110> (независимо от
ориентации поверхности). Направление
движения капель определяется анизотропией
скоростей травления и максимальной
шероховатостью латеральных {111} фасеток.
Более шероховатые поверхности травятся
быстрее. Получены температурные зависимости скорости движения капель Ga и In. При
температурах близких к температуре конгруэнтного испарения капли движутся быстрее по
подложкам (111)A, а при более высоких температурах – по подложкам (111)B. Причиной
уменьшения скорости движения по поверхностям (111)A при высокой температуре является
заглубление капли в подложку за счет увеличения скорости травления с ростом температуры. Капли
металла влияют на движение ступеней в процессе испарения. При низких температурах скорость
движения капель выше, чем скорость движения ступеней. При высоких температурах наоборот, и
капля тормозит движение прилегающей к ней части ступени. Замедление движения ступени около
капли может приводить к эшелонированию ступеней.
Publisher
Rzhanov Institute Semiconductor Physics SB RAS