Compact Thermal Modelling of Sub-20-nm Nanowire MOSFETs for Circuit Applications

Author:

K K Muhsin,Kumar Ulayil Sajesh

Publisher

Elsevier BV

Reference17 articles.

1. Multi-gate soi mosfets;J P Colinge;Microelectronic Engineering,2007

2. High performance and highly uniform gate-all-around silicon nanowire MOSFETs with wire size dependent scaling;S Bangsaruntip;IEDM Tech. Dig,2009

3. Impact of self-heating on digital SOI and strained-silicon CMOS circuits;K A Franch;Proc. IEEE Int. SOI Conf,2003

4. Effects of operating temperature on electrical parameters in an analog process;S K Cheng;IEEE Circuits Devices Mag,1989

5. Reliability study of CMOS FinFETs;Y.-K Choi;IEDM Tech. Dig,2003

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