P-Type Silicon Strip Sensors for the new CMS Tracker at HL-LHC

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Adam W.,Bergauer T.,Brondolin E.,Dragicevic M.,Friedl M.,Frühwirth R.,Hoch M.,Hrubec J.,König A.,Steininger H.,Waltenberger W.,Alderweireldt S.,Beaumont W.,Janssen X.,Lauwers J.,Mechelen P. Van,Remortel N. Van,Spilbeeck A. Van,Beghin D.,Brun H.,Clerbaux B.,Delannoy H.,Lentdecker G. De,Fasanella G.,Favart L.,Goldouzian R.,Grebenyuk A.,Karapostoli G.,Lenzi Th.,Léonard A.,Luetic J.,Postiau N.,Seva T.,Vanlaer P.,Vannerom D.,Wang Q.,Zhang F.,Zeid S. Abu,Blekman F.,Bruyn I. De,Clercq J. De,D'Hondt J.,Deroover K.,Lowette S.,Moortgat S.,Moreels L.,Python Q.,Skovpen K.,Mulders P. Van,Parijs I. Van,Bakhshiansohi H.,Bondu O.,Brochet S.,Bruno G.,Caudron A.,Delaere C.,Delcourt M.,Visscher S. De,Francois B.,Giammanco A.,Jafari A.,Komm M.,Krintiras G.,Lemaitre V.,Magitteri A.,Mertens A.,Michotte D.,Musich M.,Piotrzkowski K.,Quertenmont L.,Szilasi N.,Marono M. Vidal,Wertz S.,Beliy N.,Caebergs T.,Daubie E.,Hammad G.H.,Härkönen J.,Lampén T.,Luukka P.,Peltola T.,Tuominen E.,Tuovinen E.,Eerola P.,Tuuva T.,Baulieu G.,Boudoul G.,Caponetto L.,Combaret C.,Contardo D.,Dupasquier T.,Gallbit G.,Lumb N.,Mirabito L.,Perries S.,Donckt M. Vander,Viret S.,Agram J.-L.,Andrea J.,Bloch D.,Bonnin C.,Brom J.-M.,Chabert E.,Chanon N.,Charles L.,Conte E.,Fontaine J.-Ch.,Gross L.,Hosselet J.,Jansova M.,Tromson D.,Autermann C.,Feld L.,Karpinski W.,Kiesel K.M.,Klein K.,Lipinski M.,Ostapchuk A.,Pierschel G.,Preuten M.,Rauch M.,Schael S.,Schomakers C.,Schulz J.,Schwering G.,Wlochal M.,Zhukov V.,Pistone C.,Fluegge G.,Kuensken A.,Pooth O.,Stahl A.,Aldaya M.,Asawatangtrakuldee C.,Beernaert K.,Bertsche D.,Contreras-Campana C.,Eckerlin G.,Eckstein D.,Eichhorn T.,Gallo E.,Garcia J. Garay,Hansen K.,Haranko M.,Harb A.,Hauk J.,Keaveney J.,Kalogeropoulos A.,Kleinwort C.,Lohmann W.,Mankel R.,Maser H.,Mittag G.,Muhl C.,Mussgiller A.,Pitzl D.,Reichelt O.,Savitskyi M.,Schuetze P.,Walsh R.,Zuber A.,Biskop H.,Buhmann P.,Centis-Vignali M.,Garutti E.,Haller J.,Hoffmann M.,Lapsien T.,Matysek M.,Perieanu A.,Scharf Ch.,Schleper P.,Schmidt A.,Schwandt J.,Sonneveld J.,Steinbrück G.,Vormwald B.,Wellhausen J.,Abbas M.,Amstutz C.,Barvich T.,Barth Ch.,Boegelspacher F.,Boer W. De,Butz E.,Caselle M.,Colombo F.,Dierlamm A.,Freund B.,Hartmann F.,Heindl S.,Husemann U.,Kornmayer A.,Kudella S.,Muller Th.,Simonis H.J.,Steck P.,Weber M.,Weiler Th.,Anagnostou G.,Asenov P.,Assiouras P.,Daskalakis G.,Kyriakis A.,Loukas D.,Paspalaki L.,Siklér F.,Veszprémi V.,Bhardwaj A.,Dalal R.,Jain G.,Ranjan K.,Bakhshiansohl H.,Behnamian H.,Khakzad M.,Naseri M.,Cariola P.,Creanza D.,Palma M. De,Robertis G. 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Publisher

IOP Publishing

Subject

Mathematical Physics,Instrumentation

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