Extremely low-energy electron diffraction: measurement of intensities
Author:
Publisher
IOP Publishing
Subject
General Physics and Astronomy,General Engineering,General Materials Science,Instrumentation
Link
http://stacks.iop.org/0022-3735/16/i=3/a=012/pdf
Reference18 articles.
1. Determination of Atomic Positions in theC(2×2)Oxygen Structure on a Nickel (100) Surface by a Dynamical Low-Energy Electron-Diffraction Method
2. Mirror electron microscopy applied to the determination of the total electron reflection coefficient at a metallic surface
3. Surface barrier of W(110) and surface resonances
4. Preliminary study for the construction of a low‐energy electron‐diffraction apparatus using a high‐tension source
5. Contribution à l'amélioration de la spectrométrie r et X par sommation Compton par utilisation d'une donnée superflue
Cited by 5 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献
1. Mirror Electron Microscope-Low Energy Electron Diffraction for Studies of Surface Ordering and Melting;MRS Proceedings;1990
2. Caractérisation de MOS par des techniques d'analyse de surface en ultra-vide au cours de leur élaboration in situ;Revue de Physique Appliquée;1984
3. 81B1 - 93Z3;Landolt-Börnstein - Group III Condensed Matter
4. 14D - 81A4;Landolt-Börnstein - Group III Condensed Matter
5. 6.1.1.3 Experimental considerations;Landolt-Börnstein - Group III Condensed Matter
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