Appareillage permettant la d termination des propri t s optiques dans l'ultra-violet extr me de couches vapor es et maintenues sous ultra-vide (10-10torr)-Reference-Cited by-同舟云学术

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Appareillage permettant la d termination des propri t s optiques dans l'ultra-violet extr me de couches vapor es et maintenues sous ultra-vide (10-10torr)

Published:1971-01 Issue:1 Volume:2 Page:57-62
ISSN:0029-4780
Container-title:Nouvelle Revue d'Optique Appliquée
language:
Short-container-title:Nouvelle Revue d'Optique Appliquée

Author:

Daude A,Robin S

Publisher

IOP Publishing

Subject

General Medicine

Link

http://stacks.iop.org/0029-4780/2/i=1/a=308/pdf

Reference12 articles.

1. Appareillage permettant la détermination dans l'ultraviolet lointain des constantes optiques de couches évaporées sous ultra-vide

2. Reflectance of evaporated aluminium films in the 1050–1600 Å region, and the influence of the surface plasmon

3. Contribution à la réalisation de sources du type penning pour la spectrographie dans l'ultraviolet lointain

Cited by 4 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Far‐ultraviolet absolute reflectometer for optical constant determination of ultrahigh vacuum prepared thin films;Review of Scientific Instruments;1996-02

2. Reflectometer for the study of the optical properties of solids in the far ultraviolet;Journal of Physics E: Scientific Instruments;1973-06

3. Influence of the substrate on the optical properties of evaporated films;Thin Solid Films;1972-11

4. Effect of Different Roughnesses on the Excitation by Photons of the Surface Plasmon of Aluminum;Journal of the Optical Society of America;1972-01-01

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