Appareillage permettant la détermination dans l'ultraviolet lointain des constantes optiques de couches évaporées sous ultra-vide
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EDP Sciences
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http://rphysap.journaldephysique.org/10.1051/rphysap:0196600102012000/pdf
Reference6 articles.
1. On Calculating the Optical Constants from Reflection Coefficients
2. On the Vacuum-Ultraviolet Reflectance of Evaporated Aluminum before and during Oxidation*
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1. Far‐ultraviolet absolute reflectometer for optical constant determination of ultrahigh vacuum prepared thin films;Review of Scientific Instruments;1996-02
2. Far-ultraviolet reflectance measurements and optical constants of unoxidized aluminum films;Applied Optics;1995-08-01
3. Far-UV reflectance of UHV-prepared Al films and its degradation after exposure to O_2;Applied Optics;1994-06-01
4. Appareillage permettant la d termination des propri t s optiques dans l'ultra-violet extr me de couches vapor es et maintenues sous ultra-vide (10-10torr);Nouvelle Revue d'Optique Appliquée;1971-01
5. Reflectance of evaporated aluminium films in the 1050–1600 Å region, and the influence of the surface plasmon;Optics Communications;1969-05
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