The MOS System
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Cambridge University Press
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1. Spatially Resolved Dielectric Loss at the Si/SiO2 Interface;Physical Review Letters;2024-06-17
2. Extended Charge Layers in Metal-Oxide-Semiconductor Nanocapacitors Revealed by Operando Electron Holography;Physical Review Letters;2022-09-19
3. Dielectric Relaxation, Aging and Recovery in High-K MIM Capacitors;2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS);2021-03
4. The Criterion for Choosing an Insulator for Sili-con MOS Structures;Microsystems, Electronics and Acoustics;2018-12-28
5. Graphene-insulator-semiconductor capacitors as superior test structures for photoelectric determination of semiconductor devices band diagrams;AIP Advances;2018-05
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