ОЦЕНКА СТАТИСТИЧЕСКОЙ РАЗРЕШАЮЩЕЙ СПОСОБНОСТИ СРЕДСТВ КОНТРОЛЯ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ-Reference-Cited by-同舟云学术

ОЦЕНКА СТАТИСТИЧЕСКОЙ РАЗРЕШАЮЩЕЙ СПОСОБНОСТИ СРЕДСТВ КОНТРОЛЯ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ

Published:2023 Issue:4 Volume: Page:13-19
ISSN:2410-9932
Container-title:Электронная техника. Серия 3. Микроэлектроника
language:ru
Short-container-title:Электронная техника. Серия 3. Микроэлектроника

Author:

Крылов В.П.¹,Рахимов В.Ш.¹

Affiliation:

1. Владимирский государственный университет им. А.Г. и Н. Г. Столетовых (ВлГУ)

Abstract

Предлагаются расчетные соотношения и методика экспресс-оценки статистической разрешающей способности средств контроля электронной компонентной базы. Методика позволяет оперативно оценить возможности методов штатного и дополнительного контроля электронных компонентов в условиях технологического разброса параметров с помощью измерительных и неизмерительных средств. Приведены результаты экспериментальной апробации методики.

Publisher

Akademizdatcenter Nauka

Reference22 articles.

1. Горнев Е. С. Обеспечение надежности современных интегральных микросхем. Часть 1. Принципы обеспечения качества и надежности в промышленной технологии производства ИС // Электронная техника. Серия 3: Микроэлектроника.2020. № 3(179). С. 52-66. EDN: FBNRJV

2. Горнев Е. С. Промышленная технология микроэлектроники // Электронная техника. Серия 3: Микроэлектроника. 2019. № 2(174). С. 42-53. EDN: BYQKQU

3. Кейджян Г. А. Основы обеспечения качества микроэлектронной аппаратуры // М.: Радио и связь,1991. 232 с.

4. Горлов М.И., Сергеев В. А. Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий // под науч.ред. М. И. Горлова. 3-е изд. Ульяновск: УлГТУ,2020. 470 с. EDN: PNVYVC

5. Цветков Э. И. Основы математической метрологии // СПб.: Политехника, 2005. 510 с.