1. Gornev Ye.S. Reliability of state-of-the-art integrated circuits. Part 1: Principles of quality and reliability assurance in industrial IC fabrication technology [Обеспечение надежности современных интегральных микросхем. Часть 1. Принципы обеспечения качества и надежности в промышленной технологии производства ИС] // Elektronnaya Tekhnika. Series 3: Microelectronics. 2020. Issue 3(179). Pр. 52-66.
2. Gornev Ye.S. Industrial microelectronics technology [Промышленная технология микроэлектроники] // Elektronnaya Tekhnika. Series 3: Microelectronics. 2019. Issue 2(174). Pр. 42-53.
3. Keidzhyan G.A. Foundations of quality assurance for microelectronic devices [Основы обеспечения качества микроэлектронной аппаратуры] // Moscow: Radio i Svyaz, 1991. 232 pgs.
4. Gorlov M.I., Sergeyev V.A. State-of-the-art diagnostics methods for quality control and reliability inspection of semiconductor devices [Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий] // M.I. Gorlov (Sci. Ed.), 3rd Ed. Ulyanovsk: Ulyanovsk State Technical University, 2020. 470 pgs.
5. Tsvetkov Ye.I. Foundations of Statistical Metrology [Основы математической метрологии] // St. Petersburg: Politekhnika, 2005. 510 pgs.