1. Aleszkiewicz M. 1998. Skaningowa mikroskopia optyczna bliskiego pola. Postępy Fizyki 49(5): 247–279.
2. Aniszewska M. 2001. Zmienność podstawowych parametrów szyszki świerka. Sylwan 145(6):87–93.
3. Aniszewska M. 2012. Dynamika procesu pozyskania nasion w jedno-i dwuetapowych procesach łuszczenia szyszek sosny zwyczajnej Pinus sylvestris L. Rozprawy naukowe i monografie, Wydawnictwo SGGW, 120 s.
4. Aniszewska M., Błuszkowska U. 2016. Zmienność szyszek jodły pospolitej (Abies alba Mill.) –zmienność parametrów zewnętrznych szyszek. Leśne Prace Badawcze 77(3): 221–229.
5. Antosiewicz Z. 1970. Nasiennictwo. Poradnik leśnika. SITLiD, PWRiL, Warszawa.