Scannende Infrarotdeflektometrie für die Inspektion diffus spiegelnder Oberflächen

Author:

Höfer Sebastian1,Beyerer Jürgen

Affiliation:

1. Karlsruher Institut für Technologie (KIT), Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme (IES), Adenauerring 4, D-76131 Karlsruhe

Abstract

Zusammenfassung Unter Infrarotdeflektometrie versteht man die Anwendung des Messprinzips der Deflektometrie im thermischen Infrarotspektrum. Dadurch lässt sich ausnutzen, dass vor allem raue, metallische Oberflächen in diesem Spektrum spiegelnd erscheinen und so eine deflektometrische Inspektion ermöglicht wird. Diese Arbeit befasst sich mit dem Problem der Erzeugung der notwendigen thermischen Codemuster und deren Auswertung. Es werden verschiedene Ansätze vorgestellt, um Oberflächen mit Hilfe eines Industrieroboters oder im Durchlauf zu inspizieren. Darüber hinaus wird zur Auswertung der Muster zu einer Registrierung ein neues Verfahren vorgestellt. Die Ergebnisse werden an praktisch relevanten Beispielen demonstriert.

Publisher

Walter de Gruyter GmbH

Subject

Electrical and Electronic Engineering,Instrumentation

Cited by 3 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献,注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献,订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Deflectometry for specular surfaces: an overview;Advanced Optical Technologies;2023-07-25

2. Multiskalige Oberflächeninspektion mit Wavelets und Deflektometrie;tm - Technisches Messen;2016-10-13

3. Infrared deflectometry for the inspection of diffusely specular surfaces;Advanced Optical Technologies;2016-01-01

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