Multiskalige Oberflächeninspektion mit Wavelets und Deflektometrie

Abstract

Zusammenfassung Für die Inspektion von spiegelnden Oberflächen ist die Deflektometrie eine der bekanntesten Methoden. Eine automatische Defektdetektion, Klassifikation und Bewertung der Daten von deflektometrischen Messungen gibt es allerdings noch nicht. In diesem Artikel werden neue Methoden basierend auf der Wavelet-Analyse vorgestellt, die in der Lage sind, Fehler in unterschiedlichen Skalen zu erkennen. Um die Erkennungsrate zu erhöhen, werden die Filterbänke in Hinsicht auf Eigenschaften gegebener Defektklassen sowie an dominante Merkmalsausdehnungen optimiert. Die Verfahren wurden mit realen Messdaten evaluiert, bei denen verschiedene Defektklassen auftraten.