Electrical Breakdown (DRAMs and NV-RAMs)

Author:

Scott James F.

Publisher

Springer Berlin Heidelberg

Reference58 articles.

1. O’Dwyer J. J., Theory of Dielectric Breakdown in Solids (Clarendon Press, Oxford, 1964);

2. Wolters D. R. and Zegers-van Duijnhoven A. T. A., J. Vac. Sci. Technol. A5, 1563 (1987);

3. Coelho R., Physics of Dielectrics (Elsevier, Lausanne, 1979);

4. Waser R. and Smyth D. M., Ferroelectric Thin Films, eds. Paz de Araujo C. A., Scott J. F., and Taylor G. W. (Gordon & Breach, New York, 1996) p.47;

5. Williams R., Phys. Rev. 125, 850 (1962)

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