1. G. F. Bastin, H. J. M. Heijligers,Proc. Xlth Int. Congr. on X-Ray Optics and Microanalysis (J. D. Brown, R. H. Packwood, eds.), Univ. of Western Ontario, London (Canada), 1987, p. 257.
2. T. Barbee, D. J. Bleu, A. P. von Rosenstiel, W. Knippenberg, A. Huizing, P. Willich,Proc. Xlth Int. Congr. on X-Ray Optics and Microanalysis (J. D. Brown, R. H. Packwood, eds.), Univ. of Western Ontario, London (Canada), 1987, p. 520.
3. G. F. Bastin, H. J. M. Heijligers,X-Ray Spectrom. 1986,15, 135.
4. G. F. Bastin, H. J. M. Heijligers,Quantitative Electron Probe Microanalysis of Boron in Binary Borides, Internal Report, University of Technology, Eindhoven, 1986.
5. P. Willich,Proc. XIth Int. Congr. on X-Ray Optics and Microanalysis (J. D. Brown, R. H. Packwood, eds.), Univ. of Western Ontario, London (Canada), 1987, p. 238.