Author:
Berge P.,Burkhardt H.,Dydak F.,Hagelberg R.,Krasny M. W.,Meyer H. J.,Palazzi P.,Ranjard F.,Rothberg J.,Steinberger J.,Taureg H.,Wahl H.,Williams R. W.,Wotschack J.,Bl�mer H.,Brummel H. D.,Buchholz P.,Duda J.,Eisele F.,Kampschulte B.,Kleinknecht K.,Knobloch J.,M�ller E.,Pszola B.,Renk B.,Alvarez T.,Belusevic R.,Falkenburg B.,Geiges R.,Geweniger C.,Hepp V.,Keilwerth H.,Tittel K.,Debu P.,Guyot C.,Merlo J. P.,Para A.,Perez P.,Perrier F.,Peyaud B.,Schuller J. P.,Turlay R.,Vallage B.,Abramowicz H.,Kr�likowski J.,Lipniacka A.
Publisher
Springer Science and Business Media LLC
Subject
Physics and Astronomy (miscellaneous),Engineering (miscellaneous),Physics and Astronomy (miscellaneous),Physics and Astronomy (miscellaneous)
Cited by
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