Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie (SIMS)-Reference-Cited by-同舟云学术

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Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie (SIMS)

Published:1986 Issue: Volume: Page:1-96
ISSN:
Container-title:Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
language:
Short-container-title:

Author:

Grasserbauer Manfred

Publisher

Springer Berlin Heidelberg

Link

http://link.springer.com/content/pdf/10.1007/978-3-642-70177-1_1.pdf

Reference108 articles.

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1. Advanced surface analysis of silicate glasses, oxides and other insulating materials: a review;Journal of Non-Crystalline Solids;1997-01

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