Breakdown in Silicon Carbide pn Junctions

Author:

Anikin M. M.,Levinstein M. E.,Strelchuk A. M.,Syrkin A. L.

Publisher

Springer Berlin Heidelberg

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Cited by 2 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献,注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献,订阅后可以查看论文全部施引文献

1. BREAKDOWN PHENOMENA IN SEMICONDUCTORS AND SEMICONDUCTOR DEVICES;International Journal of High Speed Electronics and Systems;2004-12

2. Wide Band Gap Electronic Devices;Wide Band Gap Electronic Materials;1995

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