Disruption, Metallization, and Electrical Properties of Metal GaAs and InP Semiconductor Interfaces

Author:

Spicer W. E.,Cao R.,Miyano K.,McCants C.,Chiang T. T.,Spindt C. J.,Newman N.,Kendelewicz T.,Lindau I.,Weber E.,Liliental-Weber Z.

Publisher

Springer US

Reference66 articles.

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1. Schottky Contacts on Silicon;Springer Series in Electronics and Photonics;1994

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