Materials and Device Reliability in SONOS Memories-Reference-Cited by-同舟云学术

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Materials and Device Reliability in SONOS Memories

Published:2017 Issue: Volume: Page:1-54
ISSN:
Container-title:Charge-Trapping Non-Volatile Memories
language:
Short-container-title:

Author:

Ramkumar Krishnaswamy

Publisher

Springer International Publishing

Link

http://link.springer.com/content/pdf/10.1007/978-3-319-48705-2_1

Reference66 articles.

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1. High Endurance Sonos Technology Improved by Design & Process Optimization;2023 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC);2023-06-26

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